1、產品特點：
第四代同步加(jia)速器的尖端技術：
EIGER2 X CdTe探(tan)測(ce)器(qi)是為在高能(neng)量段需要高分(fen)辨率(lv)和高幀速率(lv)的(de)科學(xue)家設計(ji)的(de)。單(dan)個像素(su)尺(chi)寸僅為75μm，可檢測的光子能(neng)量(liang)(liang)高(gao)達100 keV。由(you)于死時間(jian)為零，所以每幀之(zhi)(zhi)間(jian)不會丟(diu)失(shi)光子。雙能(neng)量(liang)(liang)閾值可以在(zai)兩(liang)個能(neng)量(liang)(liang)段之(zhi)(zhi)間(jian)做剪影或(huo)(huo)減少高(gao)能(neng)量(liang)(liang)段的背景噪音。第二(er)個能(neng)量(liang)(liang)鑒別閾值允許你(ni)在(zai)兩(liang)個能(neng)量(liang)(liang)箱中成像你(ni)的樣本(ben)，或(huo)(huo)削減更高(gao)的諧波以減少背景。計(ji)數速(su)率高達107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探測器(qi)性能優異且易于(yu)集成和(he)操作(zuo)。
2、核心優勢：
– 量(liang)子效率高(gao)、能量(liang)范(fan)圍高(gao)達100KeV
– 沒有圖像延(yan)遲或(huo)余輝
– 最大計數速率高達107光子/秒/像素
– 兩個能量閾值
– 電子門控觸發
– 有效面積大
3、應用領域：
– x射線衍射(單晶和粉末)
– 現場和原位技術
– 衍射顯微鏡和層析成像
– 漫散射和對分布函數
4、技術參數：
EIGER2 X CdTe | 9M | 16M |
探測器模(mo)塊(kuai)數量 | 3 x 6 | 4 x 8 |
有效面積：寬x高 [mm2] | 233.1 X 244.7 | 311.1 X 327.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | |
| 總(zong)像素 | 3108 × 3262 =10,138,296 | 4148 × 4362 =18,093,576 |
間隙寬度 垂直/水平(ping)[pixels] *每(mei)個(ge)模塊中間有一(yi)2個(ge)像素的垂直間隙 | 12 / 38 | 12 / 38 |
| 能量閾值 | 2 | |
最大計數率(lv)[光(guang)子/秒/像(xiang)素] | 107 | |
| 最大幀速率 [Hz] | 550 | 550(20s burst), 400（連(lian)續） |
| 點(dian)擴散(san)函數(shu) | 1 pixel(FWHM) | |
CdTe厚度[μm] | 750 | |
| 真空兼容性是否可選 | 否 | |
| 數據格式(shi) | HDF5 / NeXus | |
尺寸（WHD）[mm3] | 340 × 370 × 500 | 400 × 430 × 500 |
重量(liang) [kg] | 41 | 55 |
| 光子(zi)能量[keV] | 100keV | |
010-62712978，136911 11138
