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    一、Maestro和GammaVision解譜軟件

    ORTEC 在(zai)軟件的(de)研發上(shang)始終保持與Windows操作系(xi)統的(de)兼容性，操作界(jie)面十分友好而簡(jian)潔。僅以GammaVision兩點(dian)作為例證：對于(yu)系(xi)統的(de)一切參數設置在(zai)同(tong)一個軟件界(jie)面下完成(cheng)。

MAESTRO軟(ruan)件

• Maestro是ORTEC的基本譜獲取軟(ruan)件，可(ke)識(shi)別并處理ORTE 所有形式和型號(hao)的MCA信(xin)號(hao)。

• Maestro具(ju)體的功能(neng)包括(kuo)：能(neng)譜(pu)獲(huo)取、能(neng)量刻度(du)、全能(neng)峰(feng)識別(bie)、編輯核(he)素庫、建立、存儲和打印(yin)感興趣區(ROI)、通過簡單(dan)的任(ren)務流自(zi)動(dong)完成重(zhong)復性測(ce)量任(ren)務等

• Maestro可(ke)設置(zhi)增益細調、上/下甄別閾、調節(jie)高壓、脈沖(chong)寬(kuan)度等參數；啟用/停止數字化譜儀穩譜功能；顯示(shi)實時間/活(huo)時間......

GammaVision軟件

• GammaVision是建立在Maestro基礎上，集(ji)硬件控制、能譜獲取、數據分析、報告生成(cheng)和(he)質量(liang)控制于(yu)一體的專業軟(ruan)件包。

• GammaVision具有(you)多(duo)路(lu)譜圖同(tong)步獲取功(gong)能MDI（Multiple Detector Interface）。與Windows、Windows XP、Windows NT等軟件良好兼容。

• GammaVision現(xian)在的版本是V7.02，其功能已臻完美(mei)。

五種分析引擎

• WAN32：GammaVision原始分析引擎，采用庫(ku)引導尋峰，用于一(yi)般應用及分析研究(jiu)型譜數(shu)據。

• GAM32：Mariscotti法尋峰(feng)，并對(dui)核素庫進(jin)行“預過濾”，以減少環境樣品測量的(de)正向(xiang)偏差。

• NPP-32：用于裂變產(chan)物復雜譜圖的分析。

• ENV32： 用于(yu)環(huan)境水平樣(yang)品的分析，Mariscotti法尋峰，同時產生(sheng)活度與MDA報(bao)告。

• ROI32：感興趣區分析引擎

能量與效率刻度

• 在(zai)初次手工刻度完成之后(hou)，軟(ruan)件(jian)(jian)根(gen)據(ju)存儲的標(biao)準源數(shu)據(ju)文件(jian)(jian)，可完全自動(dong)完成能量、峰形與效率重(zhong)新(xin)刻度。

• 效率(lv)曲線的(de)(de)定(ding)義方(fang)式(shi)有：單一(yi)函數多項(xiang)式(shi)擬合、插(cha)值法、用戶定(ding)義的(de)(de)“拐(guai)點”（Knee）前后的(de)(de)二項(xiang)式(shi)擬合或線性擬合。

• 可根(gen)據刻度過程中的圖形清楚地判斷刻度結果是(shi)否(fou)滿意。

本底確定方法

• 自動確(que)定法(fa)(fa)、多點法(fa)(fa)、拋物線法(fa)(fa)、引導式(shi)擬合及(ji)階躍法(fa)(fa)等。一般軟件會自動選定較(jiao)好方法(fa)(fa)。

       譜分析中的校正

• 用(yong)于本底中存在待測核素(su)峰的PBC校正（Peaked Background Correction）；

• 手動或自動峰(feng)間(jian)干擾校正；

• 不同基質的衰減(jian)因子校正；

• 樣品幾何形(xing)狀校正；

• 樣品收集與譜(pu)獲(huo)取期間衰變校(xiao)正。

ZDT（Zero Dead Time）

• 用于高活度(du)樣品(pin)分析中的(de)死時間校正，方法同時給出不確定度(du)。

TCC（True Coincidence Summing Correction）

• 用于級聯伽(jia)瑪射線產生的和峰效應的校正。

重峰分析方法

• 結合尋峰(feng)程序與核素(su)庫(ku)進行引(yin)導。必要時根據(ju)已識別峰(feng)進行能(neng)量(liang)重刻(ke)度。

多峰活度平均：

• 對(dui)同一核素的多(duo)個g峰按其相對(dui)豐度(du)(du)（分支比(bi)）進(jin)行活度(du)(du)計算后給出平(ping)均值。

MDA計算：

• ORTEC MDA、ORTEC Critical Level、KTA MDA、PISO MDA、Currie Limit等(deng)16種(zhong)算法。

分析結果報告：

• 未知峰(feng)；按(an)核素(su)庫(ku)峰(feng)的能量排列；按(an)核素(su)庫(ku)峰(feng)的同位素(su)種類(lei)排列；總活度。

不確定度報告

• 活度百分比；

• 計數或總計數不(bu)確定度；

• 1、2或3個Sigma（s）；

• 系(xi)統誤差(cha)或隨機不確定度。

推演的同位素定量報告

• 平均能量(liang)（EBar），按TID14844標準(zhun)；

• 碘當量：按TID14844標準；

• DAC（Maximum Permissible Concentration）。

• 所有分析(xi)結果的報告均以與MS Access兼(jian)容的格式存儲，用戶可以自行(xing)編輯(ji)。

• 所有與譜分析結果相關的(de)硬件參數都隨之一同保(bao)存(cun)，以(yi)便于回(hui)溯檢(jian)驗。

分析用核素庫

• GammaVision-32包括一個功能強大(da)的可編輯核素(su)庫(ku)，用(yong)戶可以(yi)根據實際需要建(jian)立自己的專門(men)核素(su)庫(ku)并(bing)對感興趣峰加(jia)以(yi)標簽（如單(dan)逃逸(yi)峰，c-射線峰等）。

質量保證（Quality Assurance）

按ANSI N13.30標準，隨時記(ji)錄每個探(tan)測器的以下參數：

• 探測器總本(ben)底(di)；

• 經(jing)衰變(bian)校正的所有刻度核素的總活度

• 平均(jun)FWHM比（實測譜(pu)與刻度標準(zhun)相比）

• 平(ping)均(jun)FW0.1M比（實測譜與刻度標(biao)準相比）

• 平均(jun)峰漂(piao)移(yi)（偏(pian)離核素庫值(zhi)）

• 實際峰(feng)中心能量。

為更(geng)好(hao)地(di)服務于中(zhong)國用戶，ORTEC已推出了(le)GammaVision中(zhong)文版本。

ORTEC十(shi)分注重其(qi)(qi)軟(ruan)、硬件產品(pin)的(de)延(yan)續性與相(xiang)互兼(jian)容(rong)性，其(qi)(qi)所有(you)(you)軟(ruan)件產品(pin)都(dou)屬于(yu)Connections-B32家(jia)族，并(bing)且可提供(gong)完(wan)整的(de)開發工具軟(ruan)（A11-B32）。這(zhe)樣，無論年代有(you)(you)多久遠，ORTEC的(de)產品(pin)都(dou)有(you)(you)很好(hao)的(de)互換性，且十(shi)分容(rong)易實(shi)現網絡(luo)控制與通訊(xun)。

對ORTEC高純鍺譜儀的遠(yuan)程(cheng)(cheng)控制，只需要遠(yuan)程(cheng)(cheng)計算(suan)機(ji)與(yu)現(xian)場計算(suan)機(ji)均與(yu)網絡連接即可輕松實現(xian)。

二、ANGLE V3.0 無源效率刻度軟件

        ANGLE V3.0是一(yi)款應用于實驗室高(gao)純鍺伽瑪譜(pu)儀的無源(yuan)效率刻度軟件。

ANGLE原理是基(ji)于對(dui)每套(tao)實驗(yan)室(shi)譜儀，以點(dian)源的完(wan)整效(xiao)率(lv)曲(qu)(qu)線(xian)為(wei)基(ji)準，結合(he)絕對(dui)算法與相(xiang)對(dui)算法，并由無數實驗(yan)修正，以"效(xiao)率(lv)轉換”（efficiency transfer）方(fang)(fang)法推(tui)演其(qi)(qi)它柱體狀（體源）、平面(mian)狀（面(mian)源）或馬林杯樣品源等形式(shi)樣品的效(xiao)率(lv)刻(ke)度(du)曲(qu)(qu)線(xian)。方(fang)(fang)法在較大程(cheng)度(du)上排除了采(cai)用純(chun)粹的蒙特卡(ka)洛方(fang)(fang)法時，探測器(qi)參數輸入(ru)偏差（尤其(qi)(qi)如(ru)死層(ceng)厚度(du)）而(er)導致的較大誤差。

在探測器(qi)長(chang)時(shi)間使用(yong)或經維修后特性(xing)發生變化(hua)情況下，用(yong)戶可隨(sui)時(shi)用(yong)成(cheng)系列的(de)一套標準源完成(cheng)對系統的(de)重(zhong)新“表征”。

相對采用純粹蒙特(te)卡羅方法的(de)軟件(jian)，Angle軟件(jian)的(de)用戶界(jie)面簡潔，軟件(jian)在相應圖(tu)形中顯示輸入參數的(de)位置(zhi)，避免(mian)了術(shu)語不同導致的(de)問(wen)題。

即將推出中文版(ban)Angle 4。

• 效率誤(wu)差(cha)通常(chang)不(bu)超過5%

• 支(zhi)持常用(yong)探測器類型，即將(jiang)推出的Angle 4，支(zhi)持NaI探測器

• 支持馬林(lin)杯容器

• 支持點源、片源和體源

• 可設置感興(xing)趣能(neng)量點、擬合能(neng)量區間和擬合多項式系數

• 圖形化(hua)直觀(guan)界面(mian)，輸入參數時，同(tong)步圖形顯示輸入參數的部位，避免術語(yu)不一(yi)致帶來(lai)的問題

• 預定義(yi)常用材料(liao)。新材料(liao)定義(yi)方(fang)式多樣，可以元素混合(he)物(wu)、化合(he)物(wu)、化合(he)物(wu)混合(he)物(wu)方(fang)式定義(yi)新材料(liao)，操作簡單

• 多種報(bao)告界面，輸出可復制到剪貼板，便于(yu)在Word等文字處理軟(ruan)件中編輯

• 方法的可溯源(yuan)(yuan)性：如(ru)基準(zhun)效率曲線所用的刻度點源(yuan)(yuan)為可溯源(yuan)(yuan)，則(ze)結果亦可溯源(yuan)(yuan)。

• ORTEC可(ke)在出廠(chang)時提供具體探(tan)測器(qi)（系統(tong)）的點源效(xiao)率(lv)曲(qu)線。

• 軟件保存完整信息，某一參數(shu)發生(sheng)變化時，可調用歷史數(shu)據進行修改，再(zai)生(sheng)成新的效率曲(qu)線

探測器、容器參數輸入界面

新材料定義界面

設置感興趣能量點、擬合能量區間和擬合多項式系數

獲得實際樣品的效率刻度曲線步驟：

1、輸入探測器信息：名稱、類型、晶體高度(du)和直徑、內接(jie)觸極(ji)孔直徑和深度(du)、外(wai)接(jie)觸極(ji)材(cai)料與(yu)厚度(du)、晶體死(si)層厚度(du)、導出極(ji)材(cai)料與(yu)尺(chi)寸等；

2、輸入樣品容(rong)器信息：（對體源、馬林杯或帶支架樣品）：名稱、形狀、材料、（內外）直徑、高度、壁厚(hou)等；

3、輸入樣品信息：名稱(cheng)、材料(liao)、重量、高度、直(zhi)徑(jing)等

4、保存以上信息，計(ji)算，生成效率曲(qu)線(xian)

5、命名得到的效率曲線，導入GamaVision